Informaçao sobre o Autor
Шебзухова, М. А.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Nº 4 (2025) | Articles | Size dependence of linear tension at a curved two-dimensional phase boundary |
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Palavras-chave
X-ray diffraction
X-ray photoelectron spectroscopy
atomic force microscopy
channeling
electron microscopy
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
nanoparticles
neutron reflectometry
optical properties
phase composition
scanning electron microscopy
silicon
structure
surface
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
zinc oxide
Edição corrente
Nº 3 (2025)
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